測(cè)厚儀（thickness gauge ）是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。

這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計(jì)；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有利用機(jī)械接觸式測(cè)量原理的測(cè)厚儀等。 用于測(cè)定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構(gòu)件在制造和檢修時(shí)必須測(cè)量其厚度，以便了解材料的厚薄規(guī)格，各點(diǎn)均勻度和材料腐蝕、磨損程度；有時(shí)則要測(cè)定材料表面的覆蓋層厚度，以保證產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)安全。根據(jù)測(cè)定原理的不同，常用測(cè)厚儀有超聲、磁性、渦流、同位素等四種。

測(cè)厚儀種類：

1、超聲波測(cè)厚儀
超聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的，但在同一介質(zhì)中聲速是一常數(shù)。超聲波在介質(zhì)中傳播遇到第二種介質(zhì)時(shí)會(huì)被反射，測(cè)量超聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時(shí)間，即可將這間隔時(shí)間換算成厚度。在電力工業(yè)中應(yīng)用廣的就是這類測(cè)厚儀。常用于測(cè)定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核工件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測(cè)厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導(dǎo)體收音機(jī)相近，厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對(duì)于鋼材，大測(cè)定厚度達(dá)2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之間。

2、磁性測(cè)厚儀
在測(cè)定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí)，測(cè)定值會(huì)因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測(cè)知覆蓋層厚度值。常用于測(cè)定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

3、渦流測(cè)厚儀
當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí)，由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦流產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

4、同位素測(cè)厚儀
利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理，可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

5、庫(kù)侖電解測(cè)厚儀
6、霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀 

測(cè)厚儀應(yīng)用：

1.激光測(cè)厚儀

是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來(lái)測(cè)量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。

2.X射線測(cè)厚儀
利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，篤摯儀器從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。

3.紙張測(cè)厚儀
適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。

4.薄膜測(cè)厚儀
用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。

5.涂層測(cè)厚儀
用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.

6.超聲波測(cè)厚儀
超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，篤摯儀器，通過(guò)測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。

篤摯儀器銷售的測(cè)厚儀種類：

1. 德國(guó)Fischer測(cè)厚儀：涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、庫(kù)侖電解測(cè)厚儀等；
2. 德國(guó)EPK測(cè)厚儀：涂層測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀等；
3. 美國(guó)GE測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀等；
4. 日本奧林巴斯測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀、霍爾效應(yīng)壁厚儀等；
5. 德國(guó)BYK測(cè)厚儀：涂層測(cè)厚儀等；
6. 美國(guó)狄夫斯高測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀等；
7. 德國(guó)尼克斯測(cè)厚儀：涂層測(cè)厚儀等；
8. 英國(guó)牛津測(cè)厚儀：涂層測(cè)厚儀等；
9. 英國(guó)易高測(cè)厚儀：涂層測(cè)厚儀，超聲波測(cè)厚儀等。