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更新時(shí)間：2025-08-25 
瀏覽次數(shù)：499FISCHERSCOPE X - RAY XUL 系列是緊湊、多功能的 XRF 測量設(shè)備，適用于非破壞性涂層厚度測量和材料分析。其 X 射線管和探測器系統(tǒng)位于測量臺下部，測量方向從下往上，這為測量各種不同幾何外形的小工件提供了便利。例如螺絲、螺母、螺栓或各類電連接器等小工件，多數(shù)情況下可直接將其表面放置于測量臺上，避免了從上往下測量系統(tǒng)中需要的測量距離調(diào)整，測試點(diǎn)會自動調(diào)整至正確距離，加快了測量過程，還避免了因工件定位不佳造成的測量誤差。
該系列儀器通過集成的比例計(jì)數(shù)管檢測器，可進(jìn)行快速測量，尤其適用于大測量距離和復(fù)雜形狀的樣品，即便測量點(diǎn)很小也能高效完成測量。同時(shí)，XUL 系列具備出色的精確性和長期穩(wěn)定性，明顯減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。依靠菲希爾的基本參數(shù)法，可在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下，分析固、液態(tài)樣品的成分并測量樣品的鍍層厚度。
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