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菲希爾 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215 是一款入門級(jí)經(jīng)濟(jì)型 X 射線熒光測厚儀，專為珠寶、錢幣和貴金屬的無損成分分析與鍍層厚度測量設(shè)計(jì)，具備高性價(jià)比、操作簡便、精度可靠的特點(diǎn)，符合 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)

菲希爾X射線測厚儀FISCHER XAN215核心功能與測量能力

1. 分析能力

成分分析：可分析金、銀、鉑、鈀、銠等貴金屬及其合金，包括黃 / 白金、K 金等

鍍層測厚：適用于單層 / 多層鍍層系統(tǒng)，如金鍍層、銠鍍層等厚度測量

基礎(chǔ)參數(shù)法：無需校準(zhǔn)即可分析固體、液體樣品及鍍層系統(tǒng)，提高測量靈活性

2. 操作與軟件系統(tǒng)

控制軟件：標(biāo)配 WinFTM® BASIC 軟件，可選 WinFTM® SUPER 高級(jí)版

數(shù)據(jù)處理：PC 端操作，支持?jǐn)?shù)據(jù)管理、報(bào)告生成、結(jié)果可視化

用戶交互：直觀界面，簡化測量流程，減少培訓(xùn)成本