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OmniScan SX相控陣探傷儀技術(shù)優(yōu)勢
點擊次數(shù)：1987 更新時間：2018-04-20
相控陣探傷儀技術(shù)優(yōu)勢：
- 實時彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺陷判讀，不會誤判或漏判缺陷；
- 相控陣技術(shù)可以實現(xiàn)線性掃查、扇形掃查和動態(tài)深度聚焦，從而同時具備寬波束和多焦點的特性，因此檢測速度可以更快更準；
- 相控陣具有更高的檢測靈活性，可以實現(xiàn)其它常規(guī)檢測技術(shù)所不能實現(xiàn)的功能，如對復(fù)雜工件檢測；
- 容易檢測各種走向、不同位置的缺陷，缺陷檢出率高，檢測范圍廣，定量、定位精度高；
- 掃查裝置簡單，便于操作和維護；使用更便捷，對人體無傷害，對環(huán)境無污染；
- 檢測結(jié)果受人為因素影響小，數(shù)據(jù)便于儲存、管理和調(diào)用，以及連接電腦打印查看。也可以直接連接鼠標在儀器上操作。
- 可以節(jié)省許多成本費用，一探頭和各角度楔塊的多用處，可以自動生成圖文缺陷報告，若有內(nèi)部網(wǎng)路可以直接發(fā)送質(zhì)檢報告到數(shù)據(jù)中心查閱。
超聲技術(shù)優(yōu)于射線成像的一般優(yōu)勢特性：
- 高探出率（POD），特別是在探測裂紋和未熔合缺陷時：
- 大多數(shù)研究表明，超聲技術(shù)在探測平面缺陷方面往往比射線成像的效果更好。
- 定量缺陷的高度，通過工程臨界評估可以降低要報廢或修理的產(chǎn)品數(shù)量：
- 超聲技術(shù)可以對缺陷的高度進行測量，從而可以通過缺陷的體積維度，了解缺陷的嚴重程度（而不是只了解缺陷的類型和長度）。
- 沒有輻射，不會造成危險，也不需要擁有額外的許可證書或特殊的檢測人員。
- 不需要隔離區(qū)域。在進行超聲檢測時，不會影響或中斷其附近區(qū)域正在進行的其它工作。
- 不會產(chǎn)生任何化學(xué)品或廢料，這點與基于膠片的射線成像技術(shù)正好相反。
- 對焊縫實時進行的超聲分析可以立即向電焊工提供評估結(jié)果和反饋信息。
- 超聲技術(shù)以電子格式提供設(shè)置報告和檢測報告，而射線成像技術(shù)以膠片形式提供檢測結(jié)果。
OmniScan SX相控陣探傷儀
Olympus不無自豪地為廣大用戶推出了研制的OmniScan SX，這是一款積累了20多年探索相控陣技術(shù)的經(jīng)驗，體現(xiàn)了OmniScan精華的探傷儀。為了更加方便地使用儀器，OmniScan SX在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡化的新型軟件界面。OmniScan SX是一款單組無模塊儀器，針對檢測要求較低的應(yīng)用，這款儀器操作極為方便，性價比*。OmniScan SX有兩種型號：SX PA和SX UT。SX PA是一款16:64PR相控陣單元，與僅具有UT通道的SX UT一樣，也配備了一個常規(guī)UT通道，可以進行脈沖回波、一發(fā)一收或TOFD檢測。與OmniScan MX2相比，OmniScan SX重量輕33 %，體積小50 %，具有OmniScan產(chǎn)品的更為輕巧便攜的性能。
Typical phased array probe assemblies
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