菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500技術(shù)亮點(diǎn)：

"二合一" 測(cè)量：一次測(cè)量同時(shí)獲取涂層厚度和成分分析結(jié)果，大幅提升檢測(cè)效率

三點(diǎn)支撐系統(tǒng)：確保儀器穩(wěn)定放置，減少測(cè)量誤差，提高重復(fù)性

高性能 SDD 探測(cè)器：硅漂移檢測(cè)器，能量分辨率≤160eV，可精確識(shí)別從硫 (S) 到鈾 (U) 的元素

超薄涂層測(cè)量：精度可達(dá) ±0.1μm，可測(cè)微米甚至納米級(jí)鍍層

無(wú)需校準(zhǔn)：采用基本參數(shù)法，可直接測(cè)量未知樣品，簡(jiǎn)化操作流程

菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500技術(shù)參數(shù)全解

參數(shù)規(guī)格

測(cè)量原理能量色散型 X 射線熒光 (EDXRF)

探測(cè)器高分辨率硅漂移檢測(cè)器 (SDD)

X 射線管鎢靶， 40kV/4W

測(cè)量光斑直徑 3mm

測(cè)量精度鍍層厚度 ±0.1μm

元素范圍硫 (S,16) 到鈾 (U,92)，最多同時(shí)測(cè)定 24 種元素

防護(hù)等級(jí)IP54 (防塵防濺水)，適合戶外使用

重量1.9kg (不含配件)，輕便易攜

電池續(xù)航一次充電可連續(xù)工作 6 小時(shí)

工作溫度0-40℃

數(shù)據(jù)接口USB、藍(lán)牙 (連接平板或 PC)