FISCHER新型FMP30-40膜厚儀測厚儀的詳細(xì)資料：

FISCHER新型FMP30-40膜厚儀測厚儀

FISCHER新型FMP30-40膜厚儀測厚儀

新的FMP30-40系列比標(biāo)準(zhǔn)型號FMP10-20更加通用。這些工具集成了其他特性，如為許多應(yīng)用程序提供更多內(nèi)存以及廣泛的統(tǒng)計(jì)和圖形評估。公差限值可以輸入到可校準(zhǔn)的應(yīng)用中，生產(chǎn)過程可以統(tǒng)計(jì)分析。默認(rèn)模式可以切換為矩陣模式，用于連接的多點(diǎn)測量。這些只是下面描述的眾多特性中的一小部分。

根據(jù)您的測量應(yīng)用程序中,您可以根據(jù)磁感應(yīng)的涂層厚度測量方法(DELTASCOPE®FMP30),渦流方法(同位素探傷儀®FMP30)或根據(jù)這兩種方法結(jié)合在一個(gè)樂器(DUALSCOPE®FMP40)。您將能夠使用各種類型的費(fèi)舍爾插件類型探針來度量大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)或特殊的應(yīng)用程序。

主要特性：

自動(dòng)基礎(chǔ)材料識別(FMP40)。
可存儲(chǔ)多達(dá)20000個(gè)讀數(shù)
多達(dá)100個(gè)可校準(zhǔn)的應(yīng)用程序
可將讀數(shù)分配至4,000個(gè)區(qū)塊
統(tǒng)計(jì)顯示塊中的公共特征值和終結(jié)果。特征方差分析值的輸出
圖形測量顯示為帶有高斯圖的直方圖
能夠顯示工藝公差范圍，并計(jì)算相關(guān)工藝性能指標(biāo)cp和cpk
當(dāng)超過極*，可發(fā)出聲音和視覺警告
外鍵觸發(fā)測量采集，如在直徑較小的空心圓筒中采集
通過未知涂層校準(zhǔn)的選項(xiàng)(只有磁感應(yīng)法)
能夠啟用矩陣測量模式的連接多點(diǎn)測量
平均測量數(shù)據(jù)的能力:只存儲(chǔ)幾個(gè)讀數(shù)的平均值
測量采集可通過區(qū)域測量實(shí)現(xiàn):只采集單個(gè)讀數(shù)，直到探測發(fā)射被捕獲并平均

Deltascope®FMP30 用于測量非鐵磁性金屬涂層，如鉻、銅、鋅， 以及鋼和鐵上的油漆、漆、搪瓷或塑料涂層。 Isoscope® FMP30 用于測量非鐵磁性金屬基材上的油漆、漆或塑料涂層; 用于鋁上的陽極涂層以及非導(dǎo)電材料上的導(dǎo)電涂層。 Dualscope®FMP40 由于襯底材料的自動(dòng)識別和兩種測量方法的結(jié)合， 這個(gè)通用儀器能夠測量鐵和鋼、非鐵磁性金屬和非導(dǎo)電材料上的許多涂層。

所有儀表的電源:4節(jié)AA電池或可充電電池組
(1)EΔ渦流方法
(2)MΔ磁感應(yīng)方法
(3)通過交流電源補(bǔ)充
注意:所有探測±1%的測量值或±。04密耳(1我?m)哪個(gè)更大。