SURTRONIC S116泰勒霍普森的詳細資料：

SURTRONIC S116泰勒霍普森

泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONIC S116核心技術參數(shù)

測量性能：垂直量程 200μm，垂直分辨率 5nm；標配 5μm 金剛石測針（可選 2μm/10μm），探頭下壓力 150–300mg；取樣長度 0.25mm、0.8mm、2.5mm；支持 ISO/ASME/JIS 標準，Ra 測量精度 ±(2% + 0.004μm)；配備 2CR/GAUSS 濾波器。

機身與操作：尺寸 150×85×55mm，重量 650g；4.3 英寸可旋轉(zhuǎn)觸摸屏，帶觸覺盲操作按鈕；IP54 防塵防濺，抗沖擊橡膠外殼；內(nèi)置鋰電池，單次充電可完成 2000 次測量；支持 USB2.0 數(shù)據(jù)傳輸；防滑 V 型腳架可穩(wěn)固貼合平面與圓柱面。

附件與拓展：可選深孔 / 小槽 / 直角等專用探頭，可測量 70mm 深孔；支持升降裝置與多種工裝夾具，適配管道、軸類、精密零件等復雜場景。