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fischer xdlm 237x射線熒光鍍層測厚儀 有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺，當打開防護罩時，該平臺會自動移到裝載位置。

FISCHERSCOPE XUL XYm菲希爾熒光鍍層分析儀 是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結(jié)構緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。

X射線熒光鍍層測厚儀helmut-fischer xan500 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進行材料分析。

德國菲希爾鍍層測厚儀xdv-μ-pcb XDV-μ型系列儀器是專為在很微小結(jié)構上進行高精度鍍層厚度測星和材料分析而設計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡, 光斑直徑（ FWHM ）可達10至60μm。

德國 Helmut Fischer（菲希爾）臺式能量色散 XRF 鍍層測厚儀，自上而下測量結(jié)構、搭載全自動電動 XY 平臺，是 XDL 系列自動化版本，對標 XDL230（手動 XY 臺）。

菲希爾、X射線測厚儀FISCHER XDL230，德國 Helmut Fischer 臺式 XRF 鍍層測厚儀，手動 XY 平臺 + 電動 Z 軸；定位實驗室、產(chǎn)線質(zhì)檢、來料檢驗，適合中小批量、多點位手動測量；介于簡易款 XDL220 與全自動 XDL240 之間，兼顧靈活性與性價比。 測量原理：能量色散 X 射線熒光（XRF），無損檢測，符合 ISO 3497、ASTM B568 標準。

菲希爾XDL230，XDL230 是 XDL 臺式 XRF 測厚系列中端手動精密款，核心配置：手動 XY 位移臺 + 電動 Z 升降軸，對標同系列機型： XDL210：固定平面平臺、Z 軸不可調(diào)（簡易基礎款） XDL220：平面平臺、電動 Z 軸（無 XY 移動） XDL230：手動 XY 臺 + 電動 Z 軸（小零件多點手動定位，工廠質(zhì)檢主流） XDL240：全自動電動 XY/Z 軸（大批量 P

菲希爾X射線測厚儀XDV-SDD，德國 Helmut Fischer 臺式 EDXRF 測厚 / 材料分析儀，超薄鍍層 + 痕量 RoHS 二合一機型，主打高精度、自動化批量檢測，適配實驗室研發(fā)、產(chǎn)線品質(zhì)管控、第三方檢測，符合 DIN ISO 3497、ASTM B568 國際鍍層標準，具備歐盟 X 光輻射安全認證。

菲希爾X射線測厚儀XULM240，德國 Helmut Fischer 臺式微區(qū) XRF 鍍層測厚設備，主打微小元器件超薄鍍層無損檢測，是 PCB、連接器、電鍍行業(yè)主流入門高性能機型。

菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 是一款高性能的能量色散型 X 射線熒光（EDXRF）鍍層測厚及材料分析儀，專為工業(yè)質(zhì)量控制、材料成分分析和溶液檢測設計。